Hioki IM7587 Analizator impedancji

Hioki IM7587 Analizator impedancji

Mierniki LCR oraz analizatory impedancji od Hioki to zaawansowane urządzenia, które działają w szerokim zakresie częstotliwości od 1 mHz do 3 GHz. Dzięki temu doskonale sprawdzają się w różnorodnych aplikacjach związanych z testowaniem komponentów elektronicznych. Model Hioki IM7587 wyróżnia się niezwykłą szybkością pomiaru, osiągając czas zaledwie 0,5 ms przy częstotliwościach od 1 MHz do 3 GHz. To wyjątkowa stabilność sprawia, że urządzenie jest idealnym wyborem do badań oraz rozwoju, a także dla producentów zajmujących się wielkoseryjną produkcją ferrytowych koralików chipowych i cewek indukcyjnych.

Seria IM7580 składa się z pięciu modeli, które umożliwiają pomiary w zakresie częstotliwości od 1 MHz do 3 GHz. W połączeniu z uchwytem testowym IM9201, obsługującym sześć rozmiarów SMD, przyrządy te gwarantują wygodne oraz precyzyjne pomiary próbek.

dlaczego warto wybrać Hioki IM7587?

Urządzenie to nie tylko charakteryzuje się zaawansowanymi parametrami technicznymi, ale również jest wyposażone w liczne funkcje ułatwiające codzienne użytkowanie. Wyróżnia się kompaktnymi wymiarami - obudowa jest wielkości pół szafy, a głowica pomiarowa posiada poręczne wymiary, co ułatwia jej integrację w laboratoriach oraz liniach produkcyjnych. Dzięki metodzie RF I-V uzyskuje się szczegółowe analizy impedancji, co przyspiesza proces testowania.

Nr modelu (kod zamówienia)

• IM7587-01: W zestawie kabel połączeniowy o długości 1 m
• IM7587-02: W zestawie kabel połączeniowy o długości 2 m

Warto zwrócić uwagę, że urządzenie nie jest dostarczane z uchwytem testowym czy sondą, dlatego konieczne jest zastosowanie dodatkowego sprzętu, który został zaprojektowany specjalnie do współpracy z analizatorem impedancji.

funkcje Hioki IM7587 - komparator i sprawdzanie styków

Analizator impedancji serii IM7580 posiada funkcję komparatora, która umożliwia kontrolowanie, czy zmierzone wartości mieszczą się w określonym przez użytkownika zakresie. To doskonałe rozwiązanie do generowania ocen PASS/FAIL dla testowanych próbek.

Dodatkowo, funkcja sprawdzania styków pozwala na weryfikację połączenia między próbką a zaciskami pomiarowymi, co skutecznie pomaga w wykrywaniu wadliwego kontaktu oraz potwierdzaniu dobrej jakości połączenia, co jest kluczowe w precyzyjnych pomiarach.

Najważniejsze parametry:

• Częstotliwość źródła testowego od 1 MHz do 3 GHz
• Najszybsza prędkość testu wynosząca 0,5 ms (analogowy czas pomiaru)
• 0,07% zmienności wartości mierzonej (podczas pomiaru cewki 1 nH przy 3 GHz)
• Podstawowa dokładność ±0,65% rdg.
• Metoda RF I-V
• Obudowa wielkości pół szafy i głowica pomiarowa wielkości dłoni
• Kompleksowa kontrola styków (poprzez testowanie DCR, odrzucenie Hi-Z lub ocenę kształtu fali)
• Wykonywanie pomiarów częstotliwości, poziomów i interwałów czasowych w trybie analizatora