Hioki IM7580A Analizator impedancji

Hioki IM7580A Analizator impedancji

Mierniki LCR oraz analizatory impedancji marki Hioki charakteryzują się szerokim zakresem częstotliwości, od 1 mHz do 3 GHz, co czyni je idealnym narzędziem do różnorodnych zastosowań w testowaniu komponentów elektronicznych. Model Hioki IM7580A wyróżnia się wyjątkową prędkością pomiaru, osiągając czas 0,5 ms w zakresie częstotliwości od 1 MHz do 300 MHz. Oferuje różnorodne tryby, które doskonale sprawdzą się zarówno w produkcji wielkoseryjnej, jak i w badaniach i rozwoju nowoczesnych technologii.

Pomiar LCR przy użyciu oprzyrządowania testowego SMD IM9201: Analizator impedancji serii IM7580
Seria IM7580 składa się z pięciu modeli, oferujących częstotliwości pomiarowe od 1 MHz do 3 GHz. W połączeniu z uchwytem testowym IM9201, który jest w stanie pomieścić sześć rozmiarów SMD, urządzenia te umożliwiają precyzyjny oraz wygodny pomiar próbek.

Hioki IM7580A Analizator impedancji

Analizator ten jest również kompatybilny z różnorodnymi technologiami pomiarowymi, co zapewnia elastyczność w zastosowaniach. Możliwość kompleksowej oceny styków, w tym testowanie DCR czy analiza kształtu fali Hi-Z, sprawia, że jest to wyjątkowe narzędzie w laboratoriach oraz na liniach produkcyjnych. Hioki IM7580A to nie tylko wydajność, ale także precyzja – jego podstawowa dokładność wynosi ±0,72% rdg.

Hioki IM7580A Analizator impedancji

Urządzenie jest zaprojektowane w kompaktowej obudowie o wielkości połowy szafy, a jego głowica testowa ma rozmiar dłoni, co ułatwia transport i codzienną obsługę. Dzięki funkcjonalności do wykonywania pomiarów częstotliwości, poziomów oraz interwałów czasowych w trybie analizatora, Hioki IM7580A staje się niezwykle wszechstronnym narzędziem.

• częstotliwość źródła pomiarowego od 1 MHz do 300 MHz
• najszybsza prędkość testu wynosząca 0,5 ms
• podstawowa dokładność ±0,72% rdg.
• metoda RF I-V
• korpus o wielkości połowy szafy i głowica testowa wielkości dłoni
• kompleksowa kontrola styków (poprzez testowanie DCR, odrzucenie Hi-Z lub ocenę kształtu fali)
• wykonywanie pomiarów częstotliwości, poziomów i interwałów czasowych w trybie analizatora