- Brak w magazynie. Dostępny na zamówienie.
Hioki FA1240-6x Tester sond
Urządzenia marki Hioki dedykowane do inspekcji płytek drukowanych oraz podłoży bazują na głębokiej wiedzy w obszarze precyzyjnego testowania komponentów. Seria FA1240 to narzędzie z czteroma ramionami do badania płytek PCB, które realizuje wielofunkcyjne testy w krótkim czasie, wynoszącym zaledwie 0,025 sekundy na krok.
Model zgodny z CE: FA1241-61
Wysoka precyzja oraz zautomatyzowane rozwiązania sprowadzające się do zapewniania jakości spawania modułów baterii są ważnymi atutami tego urządzenia:
- Niezależny ruch czterech ramion, co umożliwia elastyczność w testowaniu.
- Szybka i prosta zmiana punktu pomiarowego, co znacznie zwiększa efektywność pracy.
- Kompatybilność z różnymi układami zacisków bez ryzyka zakłóceń.
- Możliwość jednoczesnego testowania dwóch ogniw.
Wartościowe cechy produktu:
- Efektywne programowanie uwzględniające różnorodność wysokości komponentów.
- Automatyczne obliczanie interferencji ramienia (przy użyciu z UA1780).
- Innowacyjne podejście do wymiany sond, co znacznie redukuje nieprzewidziane przestoje.
- Ekstremalnie szybkie testowanie z prędkością do 0,025 sekundy na krok.
- Opatentowana funkcja detekcji pływającego ołowiu, która wiarygodnie identyfikuje problemy aż do etapu pseudo-kontaktu.
- Wysoka jakość lutowania z zachowaniem standardów.
- Izolowane fazowo pomiary i funkcja ochrony, idealne do zastosowań w obwodach analogowych.
- Opcjonalna obsługa aktywnego testowania.
- Rozbudowany obszar testowy o wymiarach 510 × 460 mm (FA1240-61).
- Automatyczne wyrównywanie oraz prosty test wizualny.
Numery modeli (kody zamówienia):
- FA1240-61: Do dużych płytek.
- FA1240-63: Do średnich płytek.
- FA1241-61: Model zgodny z CE, przeznaczony do dużych płytek.
Hioki FA1240-6x Tester sond
Testy elektryczne mają na celu weryfikację poprawności montażu. Umożliwiają one szybkie tworzenie programów na podstawie danych projektowych oraz natychmiastowe potwierdzanie i rejestrowanie usterek, co przekłada się na oszczędność czasu i kosztów.
Rozróżnienie pomiędzy pływaniem wyprowadzeń a pseudokontaktem jest istotne. Pseudokontakt to defekt, który może umknąć uwadze w różnych testach, prowadząc do wypuszczenia wadliwych produktów na rynek.
Technologia kontroli obrazu umożliwia wiarygodne rozpoznawanie pływania wyprowadzeń. W związku z tym, opatentowany przez Hioki test rezystancji służy do wykrywania trudnych do zidentyfikowania pseudokontaktów, co znacząco zwiększa jakość wytwarzanych płytek.
Ważnym aspektem jest również jakość danych testowych oraz ich łatwość w tworzeniu. W erze dyskretnej dążenie do uproszczenia procesu generowania danych było kluczowe, ale dziś istotne jest, aby tworzenie danych testowych dla modelu FA1240 było jednocześnie proste i precyzyjne.
Optymalizacja różnic między danymi, które wystarczą do obsługi testera, a tymi, które umożliwiają efektywniejsze monitorowanie produktów, przyczynia się do redukcji przestojów na linii produkcyjnej.
Wystarczy postępować zgodnie z opracowanym planem.
Hioki FA1240-6x Tester sond
Proces automatycznego obliczania interferencji ramienia (w przypadku użycia z UA1780) usprawnia procedury testowe. Jeśli masz wątpliwości co do kompatybilności końcówek sond z komponentami na płytce, nowoczesne możliwości wyboru sond w FA1240 znacząco odciążają operatorów.
Wysoka trwałość sond (łatwa wymiana NEW) sprawia, że końcówki Hioki osiągają niezrównany poziom wydajności, nawet do 3 milionów cykli styku.
Wysoka stabilność, utrzymująca kontakt przez 3 000 000 użyć, eliminuje ryzyko wystąpienia pseudokontaktu spowodowanego poślizgami.
Istotnym elementem pracy z płytkami drukowanymi pozostaje programowanie, testowanie oraz wizualizacja wyników:
[Program] FIT-LINE UA1780
[Test] FLYING PROBE TESTER FA1240
[Wizualizacja] FAIL VISUALIZER UA1782
Precyzyjne gromadzenie danych oraz dokładne pomiary są kluczem do identyfikacji wadliwych miejsc podczas testowania płytek obwodowych.
FA1240-61 FA1241-61 | FA1240-63 | |||||
Liczba ramion | 4 (L, ML, MR, R) | |||||
Liczba kroków testowych | 40 000 (maks.) | |||||
Zakresy pomiarowe | Rezystancja: 400 μΩ do 40 MΩ Pojemność: od 1 pF do 400 mF Indukcyjność: od 1 μH do 100 H Pomiar VZ diody: 0 do 25 V Pomiar VZ diody Zenera: 0 do 25 V, 25 do 80 V (funkcja opcjonalna) Tranzystory cyfrowe: 0 do 25 V Fotozłącza: 0 do 25 V Zwarcie: od 0,4 Ω do 400 kΩ Otwarty: od 4 Ω do 40 MΩ Pomiar napięcia DC: 0 do 25 V | |||||
Czas pomiaru | Maks. 0,025 sek./krok | Maks. 0,025 sek./krok | ||||
Precyzja sondowania | W zakresie ±100 μm dla każdego ramienia (kierunki X i Y) | |||||
Powtarzalność pozycjonowania | W zakresie ±50 μm (pozycje pomiarowe) | |||||
Skok między sondami | Min. 0,15 mm Min. 0,5 mm (w przypadku korzystania z sond 4-końcówkowych) | Min. 0,15 mm Min. 0,5 mm (w przypadku korzystania z sond 4-zaciskowych) | ||||
Wymiary płytki testowej | 510 mm (20,08 cala) szer. × 460 mm (18,11 cala) głęb. | 400 mm (15,75 cala) szer. × 330 mm (12,99 cala) gł. | ||||
Zasilanie | 200 V AC (jednofazowe), 50/60 Hz, 6 kVA (FA1241: 230 V AC) | 200 V AC (jednofazowy), 50/60 Hz, 5 kVA | ||||
Wymiary i masa | 1406 mm (55,35 cala) wys. × 1300 mm (51,18 cala) wys. × 1380 mm (54,33 cala) gł., 1150 kg (40 564,4 uncji) | 1266 mm (49,84 cala) wys. × 1369 mm (53,90 cala) wys. × 1425 mm (56,10 cala) gł., 1050 kg (37 037 uncji) |
Identyfikator produktu: FA12406X
Informacje o bezpieczeństwie:
Nasze produkty są w pełni zgodne z wymogami General Product Safety Regulation (GPSR). Starannie dbamy o ich najwyższą jakość, przeprowadzając rygorystyczne testy, które potwierdzają zgodność z obowiązującymi przepisami bezpieczeństwa. Jeśli masz pytania lub potrzebujesz dodatkowych informacji, skontaktuj się z naszym działem obsługi klienta. Z przyjemnością udzielimy odpowiedzi na wszelkie pytania dotyczące naszych produktów oraz ich zgodności z regulacjami.
Producent:
HIOKI EUROPE GmbH, Helfmann-Park 2, 65760 Eschborn, German
Dystrybutor:
Merserwis Sp. z o. o. Sp. k. ul. gen. Wł. Andersa 10 00-201 Warszawa, Poland