Hioki FA1220 Tester sond

Hioki FA1220 Tester sond

Urządzenia marki Hioki do monitorowania i testowania PCB oraz podłoży wykorzystują nasze zaawansowane doświadczenie w precyzyjnej diagnostyce komponentów elektronicznych. Model FA1220 Tester sond stanowi wszechstronny moduł pomiarowy, który doskonale współpracuje z już istniejącym automatycznym wyposażeniem testującym, rozszerzając jego funkcjonalność i możliwości analizy.

Hioki FA1220 Tester sond – Nowoczesne rozwiązanie

Ten innowacyjny produkt znajduje zastosowanie nie tylko w standardowych testach, ale także w sytuacjach wymagających dużej precyzji, co czyni go idealnym narzędziem w laboratoriach i zakładach produkcyjnych. Warto podkreślić, że tester ten oferuje innowacyjne funkcje, które znacznie poprawiają wydajność całego procesu testowania.

Funkcjonalności Hioki FA1220 Tester sond

1. Kompaktowa konstrukcja stacjonarnej wieży, która bezproblemowo integruje się z okablowaniem i systemami w istniejącej infrastrukturze testowej.

2. Rozbudowane opcje testowania, które odpowiadają na różnorodne potrzeby użytkowników.

3. Możliwość wykrywania błędów, takich jak odwrotne włożenie kondensatora elektrolitycznego i układów scalonych, co zwiększa bezpieczeństwo i dokładność wyników.

4. Innowacyjna funkcja makrotestowania, która zoptymalizowałą czas i efektywność testów.

5. Czterozaciskowy pomiar niskiej rezystancji, co zapewnia stabilne i wiarygodne wyniki pomiarów, idealne do monitorowania połączeń elektrycznych.

**Numer modelu (kod zamówienia)**

FA1220 (tylko jednostka główna)

- Warto zauważyć, że dane z poprzednich modeli 1101 i 1102 nie są kompatybilne z modelem 1220 (FA1220), ponieważ Hioki nie oferuje oprogramowania umożliwiającego ich wykorzystanie na nowoczesnych komputerach.

- W zakresie zgodności danych między FA1220/FA1221 a starszymi produktami (1220-00/-01/-02/-11/-50/-51/-52/-55) użytkownicy mogą napotkać pewne ograniczenia. Chociaż dane utworzone dla starszych produktów mogą być przydatne, ich pełna kompatybilność z FA1220/FA1221 nie jest zagwarantowana. Dla skuteczności testowania może być konieczne wykonanie nowych akwizycji, takich jak pojemność rozproszona, rezystancja okablowania, dane S/O, dane IC oraz diagnostyka testów komponentów. W szczególności w przypadku pomiaru niskich wartości pojemności może być wymagane ponowne pozyskanie pojemności rozproszonej.